Isi
XRF dan XRD adalah dua teknik x-ray yang umum. Masing-masing memiliki kelebihan dan kekurangan untuk metode pemindaian dan pengukuran khusus. Meskipun teknik ini memiliki banyak aplikasi, XRF dan XRD sebagian besar digunakan dalam industri ilmiah untuk pengukuran senyawa. Jenis senyawa dan struktur molekulnya menunjukkan teknik mana yang akan lebih efektif.
Kristal
Difraksi bubuk sinar-X — atau XRD — digunakan untuk mengukur senyawa kristalin dan memberikan analisis kuantitatif dan kualitatif senyawa yang tidak dapat diukur dengan cara lain. Dengan menembakkan X-Ray pada suatu senyawa, XRD dapat mengukur difraksi sinar dari berbagai bagian senyawa. Pengukuran ini kemudian dapat digunakan untuk memahami komposisi senyawa pada tingkat atom, karena semua senyawa mendifraksi sinar secara berbeda. Pengukuran XRD menunjukkan make-up struktural, konten dan ukuran struktur kristal.
Logam
X-Ray Fluorescence — atau XRF — adalah teknik yang digunakan untuk mengukur persentase logam dalam matriks anorganik seperti semen dan logam campuran. XRF adalah alat penelitian dan pengembangan yang sangat berguna dalam industri konstruksi. Teknik ini sangat berguna untuk menentukan make-up bahan-bahan ini, memungkinkan untuk semen dan paduan berkualitas tinggi untuk dikembangkan.
Kecepatan
XRF dapat dilakukan dengan cukup cepat. Pengukuran XRF, yang mengukur logam dalam sampel yang diberikan, dapat diatur dalam waktu kurang dari satu jam. Analisis hasil juga mempertahankan keunggulan menjadi cepat, biasanya hanya membutuhkan waktu 10 hingga 30 menit untuk berkembang, yang berkontribusi pada kegunaan XRF dalam penelitian dan pengembangan.
Batas XRF
Karena pengukuran XRF mengandalkan kuantitas, ada batasan pada pengukuran. Batas kuantitatif normal adalah 10 hingga 20 ppm (bagian per juta), biasanya partikel minimum yang diperlukan untuk pembacaan yang akurat.
XRF juga tidak dapat digunakan untuk menentukan kandungan Berilium, yang merupakan kerugian tersendiri ketika mengukur paduan atau bahan lain yang mungkin mengandung Berilium.
Batas XRD
XRD juga memiliki batasan ukuran. Ini jauh lebih akurat untuk mengukur struktur kristal besar daripada yang kecil. Struktur kecil yang hadir hanya dalam jumlah jejak akan sering tidak terdeteksi oleh pembacaan XRD, yang dapat menghasilkan hasil yang miring.